← Услуги метрологической лаборатории

Определение структурных и электро-физических свойств образцов,
в том числе — оптических поверхностей

Высоковакуумный аналитический комплекс на базе электронного микрозонда

Модель/марка: NTK-USPM-REELS, SOLVER HV
Производитель: ЗАО «НТ-МДТ», Россия
Структурное подразделение: Метрологическая лаборатория
Назначение: СОЛВЕР HV позволяет с нанометровым разрешением проводить исследование поверхностных характеристик и приповерхностных физических параметров различных объектов, допускающих их размещение в вакууме.
Измерительные методики: Конструкция комплекса должна поддерживать следующие измерительные методики:
1)Контактную атомно-силовую микроскопию
2) Микроскопию латеральных сил
3)Резонансную атомно-силовую микроскопию (полуконтактную + бесконтактную)
4)Метод отображения Фазы
5)Метод модуляции силы
6)Изображение Силы Адгезии
7)Отображение сопротивления растекания
8) Сканирующую Емкостную Микроскопию
9) Метод зонда Кельвина
10)Магнитно-силовую Микроскопию
11)Электро-силовую Микроскопию
12) Силовую литографию
13) Токовую литографию
14) Резонансную литографию
15) Сканирующую туннельную микроскопию
16) Туннельную спектроскопию

visokovakuumnij_analiticheskij_kompleks_na_baze_electronnogo_microzonda

Лазерный фазово-поляризационный микроскоп для материаловедения

Модель/марка: МИМ-320
Производитель: ООО «Лаборатории «АМФОРА»»
Структурное подразделение: Метрологическая лаборатория
Назначение: Восстановление геометрического рельефа образца, поляризационные свойства измеряемого объекта, физические свойства образца (показатель преломления, анизотропия, фазовый состав, механическое напряжение).
Технические характеристики:
Разрешение в плоскости образца, нм: 10-100
3Д изображение.

lazernij_fazovo_polyarizacionnij_microskop_dlya_materialovedenija